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3J1-OS7-5 Slice Samplingを用いたSAT技術による確率推論

06月03日(Fri) 08:50〜12:05 J会場(30名-学習室5(県大7F))
3J1-OS7 オーガナイズドセッション「OS-07 SAT技術の理論,実装,応用」

演題番号3J1-OS7-5
題目Slice Samplingを用いたSAT技術による確率推論
著者山口 雅博(東京工業大学大学院 情報理工学研究科)
佐藤 泰介(東京工業大学大学院 情報理工学研究科)
石畠 正和(東京工業大学大学院 情報理工学研究科)
時間06月03日(Fri) 10:10〜10:30
概要SAT問題を解く技術は確率推論への応用を含めて、現在多くの研究がなされている。
その中で厳密計算が難しい規模の大きな問題に対して、サンプリングを用いることにより
確率推論を近似的に行う手法が提案されてきた。一方、新しいサンプリング法として
スライスサンプリングが知られている。我々はSAT技術とスライスサンプリングを
組み合わせた確率推論を実装し、その効果について考察する。
論文PDFファイル